ГлавнаяБаза уязвимостей БДУ → BDU:2026-00199
10критическая

BDU:2026-00199 (CVE-2025-27595)

Уязвимость лазерного датчика SICK DL100, связанная с использованием обратимой односторонней хэш-функции, позволяющая нарушителю оказать влияние на целостность устройства
Опубликовано: 2026-01-09
Описание

Уязвимость лазерного датчика SICK DL100 связана с использованием обратимой односторонней хэш-функции. Эксплуатация уязвимости может позволить нарушителю, действующему удаленно, оказать влияние на целостность устройства путём подбора пароля

Затрагиваемое ПО и версии
SICK DL100
Способ устранения

Использование рекомендаций производителя:
https://www.sick.com/.well-known/csaf/white/2025/sca-2025-0004.pdf

Оценка CVSS
Балл10 — критическая опасность
Источники и патчи
https://nvd.nist.gov/vuln/detail/CVE-2025-27595https://github.security.telekom.com/2025/03/multiple-vulnerabilities-in-sick-dl100.htmlhttps://www.sick.com/.well-known/csaf/white/2025/sca-2025-0004.pdf
Проверьте безопасность своего сайта и почты → Полная проверка домена